FEN

Tècniques experimentals per a la caracterització de materials


Introducción

Redes Crist.

Difracción

Red recíproca

Indexación


Difracción de rayos X

  • En esta lección estudiaremos la técnica de difracción de rayos X para la determinación de la estructura cristalina de un material.
  • La difracción tiene lugar cuando una onda pasa a través de una rendija de dimensiones similares a su longitud de onda.
  • Los rayos X tiene longitudes de onda del orden del Amstrong (10-10m) (Cu-k=1.54 Amstr.) por lo que serán difractados por los átomos de la red cristalina.
  • En la difracción, el haz de rayos X incidente se desvía en unas direcciones determinadas asociadas con la separación entre los diferentes planos cristalinos.
  • La sucesucesión de reflexiones (o de separación entre planos) observadas con una muestra permite identificar la estructura cristalina y la fase correspondiente.