Practica 2 (Asignatura ALE:   TECM) : difracción de rayos X

Cuestionario sobre el módulo de ampliación de cristalografía y difracción de Rayos X.

Alumno:

Objetivo: Ayudar a la lectura y comprensión del módulo adicional sobre difracción de rayos X y cristalografía que encontrareis en:

http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/index.html

Contesta brevemente las siguientes preguntas:

  1. Indica algunas diferencias entre cristales metálicos, iónicos y orgánicos.

  2. Explica brevemente el proceso por el cual se generan los rayos X.

  3. Enumera cinco aplicaciones de los rayos X

  4. Define y pon algún ejemplo de los siguientes elementos de simetría:

    Traslación:

    Eje de simetría:

    Plano de simetría:

    Centro de simetría:

  5. ¿Qué son las redes de Bravais?

  6. Indica qué simetrías ves en el siguiente motivo:


  7. ¿Qué son los índices de Miller y como se obtienen?

  8. ¿Cuales son los indices de miller asociados a los planos dibujados en esta red cúbica?


  9. La figura representa una red directa (azul) y su correspondiente red recíproca (verde). ¿Pertenecen a y b a un mismo plano de la familia de planos identificada por los índices de miller (2,1,0)?. Explica la respuesta


  10. ¿Qué proceso de entre los siguientes es la base de la técnica de difracción de rayos X?.

refracción, absorción, fluorescencia, dispersión, efecto Compton, polarización, reflexión.

  1. Indica algunas diferencias entre el método de difracción de polvo y los métodos de difracción de Laue y Weissenberg.