Introducción
OM
TEM
SEM
Mediciones
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Tabla comparativa de las técnicas microscópicas estudiadas
| Microscopios |
resolución aproximada |
magnificación |
fuente de luz |
tipo de muestra |
posibilidades cristalográficas |
| Ojo humano |
100um |
--- |
luz visible |
materiales macizos |
No |
| Microscopio óptico |
100nm |
5~1500x |
luz visible |
superficies pulidas |
No |
Microscopio electrónico de barrido
(SEM) |
10nm |
100~200,000x |
haz electrónico |
materiales macizos |
Si/No
depende del modelo |
Microscopio electrónico de transmisión
(TEM) |
0.5nm |
1,000~300,000x |
haz electrónico |
lámina delgada (espesor ~100 nm) |
Si |
High Resolution TEM
(HREM) |
0.1nm |
3,000~1,000,000x |
haz electrónico |
lámina delgada (espesor ~100 nm) |
Si |
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mm = 0.001 m
um = 0.000001 m
nm = 0.000000001 m
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