Introducción
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TEM
SEM
Mediciones
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Microscopio electrónico de barrido (SEM)
- En un microscopio electrónico de barrido el haz de electrones se focaliza en un punto
concreto de la muestra excitando los electrones de los átomos que la componen.
- Este bombardeo electrónico arranca electrones de la muestra (electrones secundarios)
que son captados por un detector próximo a la ésta, obteniendo información sobre ese punto.
- El haz electrónico va barriendo a continuación toda la muestra y se va
obteniendo una imagen 'punto a punto' de la superficie de ésta.
- Esta técnica microscópica es muy versátil ya que se obtienen fácilmente imágenes
de la superficie del material con amplificaciones de hasta 200.000x y detalles del relieve.
- Además de los electrones secundarios se producen también electrones rebotados
(backscatered) y rayos X debidos a la excitación de electrones en capas
profundas de los átomos. El análisis de la energía de estos fotones permite identificar los
elementos que componen el material (EDX).
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