Introducción
OM
TEM
SEM
Mediciones
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Preparación de la muestra
- El microscopio electrónico de barrido ofrece la imagen en relieve de la superficie
de la muestra, que se monta generalmente sobre un soporte de unos 3cm de diámetro.
- No existen sin embargo limitaciones al tamaño del relieve ni de la muestra (mientras
quepa dentro de la cámara del microscopio).
- En muestras que presentan relieve la imagen resulta en general más definida,
pudiendo hacer uso incluso del efecto sombra. Si se desea observar una
sección de material pulida (porque se ha usado para MO, p.ej) es conveniente atacar
previamente la superficie con ácidos para generar algo de relieve.
- En muestras no conductoras, se debe metalizar la superficie (con una fina capa de oro)
para permitir el drenaje de los electrones evitando que se cargen eléctricamente zonas del
material.
- Precisamente esta interacción entre zonas cargadas del material con el haz de electrones
permite analizar el funcionamiento de circuitos microelectrónicos 'in situ' en microscopios especialmente
preparados .
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